La microscopia ottica a sezione sottile è un metodo che consente l’osservazione delle alterazioni delle pietre: permette infatti di caratterizzare il materiale originario, definendone la tessitura e la composizione mineralogica. Questa tecnica evidenzia, inoltre, le differenze mineralogiche tra il materiale non alterato e gli strati superficiali interessati dal processo di degrado.
L’esame viene condotto su una lamina sottile (sezione), di circa 0,03 mm, preparata levigando una sezione inglobata in una resina polimerica, fino allo spessore desiderato. La luce, proveniente da una sorgente posta al di sotto del campione, lo attraversa, fornendo un’osservazione per trasparenza con un ingrandimento medio alto, misurando le caratteristiche ottiche dei minerali presenti nel campione. La tecnica condotta con un microscopio polarizzatore da mineralogia, su un impasto artificiale (intonaco, stucco, malta di allettamento, laterizio), consente l'analisi dei principali componenti e della tessitura. E’ possibile riconosce la composizione percentuale e mineralogica del campione, la sua granulometria, la composizione del legante (calce aerea, calce idraulica, tipo di cemento, gesso), la tipologia della porosità (primaria e/o secondaria), la percentuale dei pori, il rapporto carica-legante, lo stato di conservazione dell'impasto.
