La diffrazione di raggi X (XRD da X-Ray Diffractometry), utilizzata su campioni in polvere, consente di individuare sostanze inorganiche cristalline quali materiali costitutivi (es. pigmenti e intonaco) e di restauro, oltre i prodotti inorganici di degrado. L’analisi fornisce informazioni dettagliate sulla struttura cristallografica dei materiali oggetto di indagine ed è adatta per la rapida identificazione di argille, malte e calcestruzzo.
Un diffrattometro a raggi X è un dispositivo utilizzato per la determinazione dello spettro di diffrazione che consente l’identificazione delle fasi mineralogiche presenti in materiali lapidei e l’analisi delle strutture cristalline. La caratteristica principale di un diffrattometro è la sua geometria. La geometria più diffusa è quella Bragg-Brentano; in tale configurazione la sorgente e il rivelatore ruotano simultaneamente intorno al campione che rimane fisso. La rotazione consente di irradiare il campione con angoli diversi e di intercettare il raggio X rifratto ad un angolo di emersione doppio rispetto a quello incidente. Il goniometro determina la posizione della sorgente e del rivelatore nel corso della misura e quindi l’angolo di incidenza e di scattering.
- Standard Test Method for Determining Residual Stresses by the Hole Drilling Strain-Gage Method
- UNI EN 13925:2006 - Prove non distruttive - Diffrazione a raggi X dai materiali policristallini e amorfi
